Mätning av polariserat ljus
Ett avancerat mätinstrument, ellipsometern, registrerar hur linjärpolariserat ljus blir elliptiskt polariserat efter reflexion mot ett medium. Förändringen utnyttjas för att bestämma de optiska egenskaperna hos det reflekterande mediet. Tekniken är synnerligen ytkänslig och utnyttjas därför för att studera egenskaperna hos extremt tunna filmer på en känd yta.
Information om artikeln
Medverkande
Carl-Gustaf Ribbing
Källangivelse