Den i dag vanligaste typen av elektronmikroskop är svepelektronmikroskopet (SEM), vars främsta egenskap är förmågan till ytavbildning i stark förstoring med utomordentligt stort skärpedjup. I detta fall spelar provtjockleken ingen roll, eftersom man detekterar de elektroner som sprids bakåt ut ur den bestrålade provytan i stället för dem som sprids i framåtriktningen. Principen för bildalstring i svepelektronmikroskopet beskrevs redan på 1930-talet av Manfred von Ardenne och Max Knoll (1897–1969) i Tyskland. Den kunde dock

(74 av 525 ord)
Vill du få tillgång till hela artikeln?

Medverkande

  • Staffan Söderberg
  • Sture Hogmark
Källangivelse
Nationalencyklopedin, Svepelektronmikroskop. http://www.ne.se/uppslagsverk/encyklopedi/lång/elektronmikroskop/svepelektronmikroskop